双列单晶中子分析器单元 （专利授权号：CN201920721607.7）
中国人民大学理工处V6 （ 中国人民大学 ）
技术摘要
本发明涉及一种双列单晶中子分析器单元，包括：底板，用于定位在光路系统中；分析器支架，设置在所述底板上且呈音叉形；第一列单晶，设置在所述分析器支架的前侧；第二列单晶，设置在所述分析器支架的后侧。本发明的分析器支架采用布置两列单晶且均以Rowland圆为聚焦模式，既能满足能量分辨率要求，又能充分利用中子束中子通量大幅提高。同时，该分析器支架采用梯形燕尾槽和梯形燕尾导轨的配合使用，既方便安装多个分析器支架安装又能够高精度地保证同轴性，可以探测更多种能量的中子，使得不同能量的中子分析器探测的动量点具有可比性。
技术说明
本发明涉及一种双列单晶中子分析器单元，包括：底板，用于定位在光路系统中；分析器支架，设置在所述底板上且呈音叉形；第一列单晶，设置在所述分析器支架的前侧；第二列单晶，设置在所述分析器支架的后侧。本发明的分析器支架采用布置两列单晶且均以Rowland圆为聚焦模式，既能满足能量分辨率要求，又能充分利用中子束中子通量大幅提高。同时，该分析器支架采用梯形燕尾槽和梯形燕尾导轨的配合使用，既方便安装多个分析器支架安装又能够高精度地保证同轴性，可以探测更多种能量的中子，使得不同能量的中子分析器探测的动量点具有可比性。
成熟度
通过小试
技术来源
中国人民大学
